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高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)試，又稱(chēng)老化測(cè)試、壽命測(cè)試：

1.耐壓試驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作試驗(yàn)；還包括擊穿耐壓，即破壞性試驗(yàn)。電容被擊穿前的臨界電壓是擊穿電壓。

2.串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試；

3.拉伸試驗(yàn)，即引線(xiàn)與芯片焊接的牢固性；

4.測(cè)試正負(fù)溫度變化率，即電容在-40度至+60度之間的變化率；

5.老化測(cè)試，電容器在模擬工作環(huán)境下運(yùn)行30~60天，測(cè)試其參數(shù)衰減的變化；

6.壽命測(cè)試，即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，在高頻沖擊電流下對(duì)電容進(jìn)行快速充放電測(cè)試，充放電次數(shù)為充放電壽命。請(qǐng)注意，這個(gè)壽命的事故是在長(zhǎng)期老化后得到的。

7.局部放電測(cè)試，即局部放電測(cè)試；